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光學厚度測量儀的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。

FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區域或者粗糙表面薄膜特征。

FR-ΙntShpere-AIO 是一套用于精確測量全反射、漫反射及鏡面反射分量的整體解決方案。 該設備集成了穩定的 VIS/NIR 光源、反射式積分球以及具有高光學分辨率的光譜儀。通過 FR-Monitor v4.0 軟件進行控制，以計算和分析所有光學參數（如反射率、顏色等）。

FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應用，例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區域薄膜厚度、光學常數、反射率、透射率和吸光度

FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統，用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程，通過真空固定在載臺上時進行精確測量。可依測量厚度和波長范圍應用需求可在在 200-1700nm 光譜范圍內提供各種光學配置

硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。