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光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。

硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。

靈眸FF-55-0CT（全場掃頻OCT)搭載了基千可調(diào)諧激光器技術(shù)的全場－掃頻－光學(xué)相干層析技術(shù)， 解決了傳統(tǒng)點掃描光學(xué)相干層析在大范圍成像時面臨的速度瓶頸， 實現(xiàn)對透明或半透明樣品的內(nèi)部缺陷進行大范圍、 高速度、 高空間分辨和高靈敏度的三維成像， 獲得其精細的內(nèi)部三維結(jié)構(gòu)信息。

靈眸SD-OCT（點掃描譜域OCT）是—款專為透明及半透明材料檢測而設(shè)計的光學(xué)層析檢測系統(tǒng)。 該系統(tǒng)由OCT掃描模塊、 接收模塊、 系統(tǒng)控制主機及高分辨率顯示器等硬件構(gòu)成， 憑借性能， 高精度、 高速度、 大范圍、 高靈敏度等多重優(yōu)勢， 帶來不一樣的3D無損檢測體驗。

FR-ΙntShpere-AIO 是一套用于精確測量全反射、漫反射及鏡面反射分量的整體解決方案。 該設(shè)備集成了穩(wěn)定的 VIS/NIR 光源、反射式積分球以及具有高光學(xué)分辨率的光譜儀。通過 FR-Monitor v4.0 軟件進行控制，以計算和分析所有光學(xué)參數(shù)（如反射率、顏色等）。