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  • LODAS™ – AI50/100缺陷檢查裝置

    LODAS™ – AI50/100是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。

    更新時間:2026-08-03
    型號:LODAS™ – AI50/100
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:153
  • LODAS™ – BI8缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。

    更新時間:2026-08-03
    型號:LODAS™ – BI8
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:175
  • LODAS™ – BI12缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

    更新時間:2026-08-03
    型號:LODAS™ – BI12
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:164
  • LODAS™ – LI系列缺陷檢查裝置

    LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。

    更新時間:2026-08-03
    型號:LODAS™ – LI系列
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:149
  • CI8高性能SiC/GaN晶圓無損檢測解決方案

    LODAS™ – CI8是列真株式會社推出的一款化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置。

    更新時間:2026-08-03
    型號:CI8
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:224
  • 超聲波水浸掃描顯微鏡

    海的超聲波顯微鏡以水作為耦合介質,將超聲波探頭與被測芯片浸沒,探頭發射的超聲波穿過水與塑封層,到達芯片內部界面(如 Die 與粘接層);通過分析界面反射回波的差異,即可識別粘接層空洞、分層、脫粘等缺陷,實現對芯片內部結構的非破壞性質量檢測

    更新時間:2026-08-03
    型號:
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:209
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