該公司是在上交所主板上市的公司，公司是集功率半導體器件設計研發、芯片加工、封裝測試及產品營銷為一體的高新技術企業，公司經科技部、中科院等國家機構認證，被列為國家博士后科研工作站、國家創新型企業、國家企業技術中心、國家知識產權示范企業、綠色工廠、CNAS國家認可實驗室。該公司緊隨市場發展，將積累多年的技術經驗厚積薄發，技術前沿，開拓新興領域。公司擁有4英寸、5英寸、6英寸、8英寸等多條功率半導體分立器件及IC芯片生產線。

Thetametrisis 是從希臘國家科學研究發展中心獨立發展出來的高科技公司，主要技術是使用光學反射光譜分析法去精確量測單層和多層厚度以及折射率，厚度的量測范圍從幾納米到微米級別。

FR-Ultra NIR N3是一款精確測量半導體以及介電材料超厚層的機器，有先進的光學器件，可以測量：

• 光滑或粗糙的膜層以及較厚的襯底；

• 應用于厚玻璃的厚度測量（厚度可達1毫米，透明或霧面）；

• 晶圓厚度測量（像直徑達12inch的單面和雙面拋光晶圓）。

此款型號的機器提供了單點測量和mapping測量模式適配不同客戶的不同的需求。