該公司是一家上市公司，專注于半導(dǎo)體分立器件研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高新技術(shù)企業(yè)，具備IDM模式下的一體化經(jīng)營能力。產(chǎn)品線涵蓋分立器件芯片、整流器件、保護(hù)器件、小信號、MOSFET、碳化硅、光電器件、模擬IC等，可為客戶提供適用性強(qiáng)、可靠性高的系列產(chǎn)品及技術(shù)解決方案，滿足客戶一站式采購需求。

Thetametrisis 是從希臘國家科學(xué)研究發(fā)展中心獨(dú)立發(fā)展出來的高科技公司，主要技術(shù)是使用光學(xué)反射光譜分析法去精確量測單層和多層厚度以及折射率，厚度的量測范圍從幾納米到微米級別。

FR-uProbe-LC, 只需連接到大多數(shù)市售光學(xué)顯微鏡（反射率和/或透射率）的 C-Mount適配器，即可提供在顯微鏡支持的波長范圍內(nèi)進(jìn)行實(shí)時光譜測量、薄膜厚度、光學(xué)特性、不均勻性測量；使用集成、USB 連接的高分辨率和高質(zhì)量彩色相機(jī)進(jìn)行成像；不受顯微鏡本身性能影響。

光斑尺寸（收集反射率或透射率信號的區(qū)域）由孔徑尺寸和物鏡放大倍率定義，可小至 2μm。